二つの低温冷却したサファイア発振器の安定性と位相雑音試験

DICK G J; WANG R T

文献

J-GLOBAL ID：200902169032004284 整理番号：01A0265881

二つの低温冷却したサファイア発振器の安定性と位相雑音試験

Stability and Phase Noise Tests of Two Cryo-Cooled Sapphire Oscillators.

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巻： 47 号： 5 ページ： 1098-1101 発行年： 2000年09月
JST資料番号： H0369A ISSN： 0885-3010 CODEN： ITUCER 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

Cassini Ka-band Radio Science実...

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発振回路 , 波形,周波数,波長,位相の計測法・機器 , 低温装置

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