DCPD(直流電位降下)技術のための近接プローブを用いた三次元表面亀裂の非破壊評価

文献

J-GLOBAL ID：200902169036473335 整理番号：99A0145003

NDE of a 3-D Surface Crack Using Closely Coupled Probes for DCPD Technique.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=99A0145003&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0145003&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0445B") }}

著者 (4件)： , , ,
資料名：
巻： 120 号： 4 ページ： 374-378 発行年： 1998年11月
JST資料番号： D0445B ISSN： 0094-9930 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

三次元の表面亀裂の非破壊評価に対して,近接して対としたプロー...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0145003&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0445B") }}

非破壊試験

, , , , , ,

前のページに戻る