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J-GLOBAL ID：200902171802838981   整理番号：03A0004348

乾燥シリカ単分子膜の構造様式に与える電解質と蒸発速度の影響

Effect of Electrolyte and Evaporation Rate on the Structural Features of Dried Silica Monolayer Films.

著者 (3件)： ROEDNER S C (Inst. Surface Chemistry AB, Stockholm, SWE) ,  WEDIN P (Inst. Surface Chemistry AB, Stockholm, SWE) ,  BERGSTROEM L (Inst. Surface Chemistry AB, Stockholm, SWE)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 18  号： 24  ページ： 9327-9333  発行年： 2002年11月26日 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラス基質上で乾燥された希薄シリカサスペンションから形成され...

シソーラス用語： *単分子層 ,...
準シソーラス用語： *シリカ ,...

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分類 (2件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  コロイド化学一般  (CB11010C)

タイトルに関連する用語 (5件)： シリカ ,  単分子膜 ,  構造様式 ,  電解質 ,  蒸発速度