文献

J-GLOBAL ID：200902172989913635   整理番号：02A0242893

Kelvinプローブ力顕微鏡における表面水層によって遮蔽されたポテンシャル

Potential shielding by the surface water layer in Kelvin probe force microscopy.

著者 (5件)： SUGIMURA H (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  ISHIDA Y (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  HAYASHI K (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  TAKAI O (Nagoya Univ., Nogoya, JPN) ,  NAKAGIRI N (Nikon Co., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 80  号： 8  ページ： 1459-1461  発行年： 2002年02月25日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Kelvinプローブ力顕微鏡(KFM)を用いて2nmの酸化物...

シソーラス用語： *PN接合 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0242893&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  (BM03083P)

タイトルに関連する用語 (4件)： Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  水層 ,  遮蔽 ,  ポテンシャル