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J-GLOBAL ID：200902173267798730   整理番号：02A0093650

シリコン密度標準の開発と静水圧計量法による固体物質の精密密度測定

Development of a silicon density standard and precision density measurements of solid materials by hydrostatic weighing.

著者 (3件)： FUJII K (National Res. Lab. Metrology, Ibaraki, JPN) ,  WASEDA A (National Res. Lab. Metrology, Ibaraki, JPN) ,  KURAMOTO N (National Res. Lab. Metrology, Ibaraki, JPN)
資料名： Measurement Science and Technology  (Measurement Science and Technology)
巻： 12  号： 12  ページ： 2031-2038  発行年： 2001年12月 
JST資料番号： C0354C  ISSN： 0957-0233  CODEN： MSTCEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン結晶の絶対密度測定と静水圧計量法による固体物質の相対...

シソーラス用語： *ケイ素 ,...

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分類 (2件)： 質量,密度,比重の計測法・機器  (AD05030Z) ,  単位,標準,標準器,定数  (AD03000E)

タイトルに関連する用語 (10件)： シリコン ,  密度 ,  標準 ,  開発 ,  静水圧 ,  計量法 ,  固体 ,  物質 ,  精密 ,  密度測定