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J-GLOBAL ID：200902173465617237   整理番号：93A0308991

圧電抵抗検出による原子間力顕微鏡を用いた原子サイズの分解能

Atomic resolution with an atomic force microscope using piezoresistive detection.

著者 (3件)： TORTONESE M (Stanford Univ., Californi) ,  BARRETT R C (Stanford Univ., Californi) ,  QUATE C F (Stanford Univ., Californi)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 62  号： 8  ページ： 834-836  発行年： 1993年02月22日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子間力顕微鏡(AFM)法の新しい検出法が,伝導性,非伝導性...

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 圧電抵抗 ,  原子間力顕微鏡 ,  原子 ,  サイズ ,  分解能