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J-GLOBAL ID：200902174340153065   整理番号：93A0547084

発光素子に対する少数キャリア寿命測定用の新しい装置

Apparatus for minority-carrier lifetime measurements on light-emitting devices.
著者 (1件)：
KOT M

KOT M について

(Inst. Radio Engineering and Electronics, Czech Academy of Sciences, Prague, CSK)

Inst. Radio Engineering and Electronics, Czech Academy of Sciences, Prague, CSK について


資料名：
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

Review of Scientific Instruments について


巻： 64  号： 5  ページ： 1268-1270  発行年： 1993年05月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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InGaAsP/InP LEDの駆動電流と少数キャリア寿命の...
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リン化インジウム

リン化インジウム について

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分類 (1件)：
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13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 
(BM03082Y)

13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 について

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発光素子

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少数キャリア寿命

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