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J-GLOBAL ID：200902174870678827   整理番号：95A0671852

半導体表面と界面の光学的キャラクタリゼーション

Optical Characterisation of Semiconductor Surfaces and Interfaces.
著者 (1件)：
MCGILP J F

MCGILP J F について

(Trinity Coll., Dublin, IRL)

Trinity Coll., Dublin, IRL について


資料名：
Progress in Surface Science  (Progress in Surface Science)

Progress in Surface Science について


巻： 49  号： 1  ページ： 1-106  発行年： 1995年05月 
JST資料番号： D0310B  ISSN： 0079-6816  CODEN： PSSFBP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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半導体表面と界面に適用する光分光法の最近の発展を概観した。根...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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半導体材料

半導体材料 について

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分類 (1件)：
分類
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光物性一般 
(BM08010A)

光物性一般 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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半導体表面

半導体表面 について

, 
界面

界面 について

, 
光学

光学 について

, 
キャラクタリゼーション

キャラクタリゼーション について


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