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J-GLOBAL ID:200902175333377710   整理番号:97A0987025

走査型プローブ顕微鏡の像シュミレーション,表面再構成およびチップ評価のためのアルゴリズム

Algorithms for Scanned Probe Microscope Image Simulation, Surface Reconstruction, and Tip Estimation.
著者 (1件):
資料名:
巻: 102  号:ページ: 425-454  発行年: 1997年07月 
JST資料番号: C0340C  ISSN: 1044-677X  CODEN: JRITEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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分類 (1件):
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顕微鏡法 

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