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J-GLOBAL ID：200902175570278564   整理番号：00A0589838

光応用精密計測と長さ標準の発展

Progress of optical precision measurement technology and length standards.

著者 (1件)： 松本弘一 (計量研)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 69  号： 6  ページ： 631-640  発行年： 2000年06月10日 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 長さは人間活動にとって最も重要な量の一つであり,長さと幾何学...

シソーラス用語： *長さ測定 ,...

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分類 (2件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

引用文献 (46件)：

• 1) 松本弘一: O plus E 21, 25 (1999).
• 2) P. De Bievre and P. D. P. Taylor: metrologia 34, 67 (1997).
• 3) M. Lenzner, S. Sartania, Z. Cheng, L. Xu, A. Poppe, C. Spielmann and F. Krausz: Abstracts of International workshop on femtosecond technology FST '97, 48 (1997).
• 4) 平井亜紀子:計量研究所報告 47, 165 (1998).
• 5) T. J. Quinn: metrologia 36, 211 (1999).

タイトルに関連する用語 (4件)： 応用 ,  精密計測 ,  標準 ,  発展