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J-GLOBAL ID：200902179205822153   整理番号：95A0531757

基底状態損失蛍光顕微鏡法 回折分解能限界を破る概念

Ground-state-depletion fluorscence microscopy: a concept for breaking the diffraction resolution limit.

著者 (2件)： HELL S W (Univ. Turku, Turku, FIN) ,  KROUG M (Univ. Turku, Turku, FIN)
資料名： Applied Physics. B. Lasers and Optics  (Applied Physics. B. Lasers and Optics)
巻： 60  号： 5  ページ： 495-497  発行年： 1995年05月 
JST資料番号： E0501B  ISSN： 0946-2171  CODEN： APBOEM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 古典的回折分解能の限界を基本的に越える,遠視野蛍光顕微鏡法に...

シソーラス用語： 基底状態 ,...

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分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (7件)： 基底状態 ,  損失 ,  蛍光顕微鏡法 ,  回折 ,  分解能 ,  限界 ,  概念