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J-GLOBAL ID：200902179566713464   整理番号：02A0807458

動的原子間力顕微鏡法

Dynamic atomic force microscopy methods.
著者 (2件)：
GARCIA R

GARCIA R について

(CSIC, Madrid, ESP)

CSIC, Madrid, ESP について

, 
PEREZ R

PEREZ R について

(Univ. Autonoma de Madrid, Madrid, ESP)

Univ. Autonoma de Madrid, Madrid, ESP について


資料名：
Surface Science Reports  (Surface Science Reports)

Surface Science Reports について


巻： 47  号： 6/8  ページ： 197-301  発行年： 2002年09月 
JST資料番号： E0422B  ISSN： 0167-5729  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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動的原子間力顕微鏡(AFM)法の基礎,応用及び将来傾向を概説...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡 について

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分類 (1件)：
分類
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顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
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原子間力顕微鏡法

原子間力顕微鏡法 について


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