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J-GLOBAL ID：200902180636965251   整理番号：95A1000612

最近の近赤・赤外線分析計の評価と使い方 総論 プロセスにおける最近の近赤・赤外線分析技術の動向

Evaluation and usage of recent near infrared and infrared spectroscopy. A survey. Recent trend of near infrared and infrared spectroscopy in process.

著者 (1件)： 中村誠造 (横河電機)
資料名： 計装  (Instrumentation Control Engineering)
巻： 38  号： 13  ページ： 10-13  発行年： 1995年12月 
JST資料番号： F0485A  ISSN： 0368-5780  CODEN： KISOBT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近赤外FT-IRの普及には,サンプルスペクトル多変量解析手法...

シソーラス用語： 近赤外スペクトル ,...

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分類 (3件)： 化学プロセスの測定,監視,計装  (XC02030Y) ,  赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W) ,  計測機器一般  (AD02000X)

タイトルに関連する用語 (8件)： 赤 ,  赤外線 ,  分析計 ,  評価 ,  使い方 ,  プロセス ,  分析 ,  動向