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J-GLOBAL ID：200902182146738519   整理番号：00A0849875

伝導度測定のための走査型ナノスケール-マルチプローブ

Scanning nanoscale multiprobes for conductivity measurements.

著者 (6件)： BOGGILD P (Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK) ,  HANSEN T M (Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK) ,  KUHN O (Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK) ,  GREY F (Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK) ,  JUNNO T (Lund Univ., Lund, SWE) ,  MONTELIUS L (Lund Univ., Lund, SWE)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 71  号： 7  ページ： 2781-2783  発行年： 2000年07月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 薄膜表面において空間的に高分解能で電気伝導度を測定するために...

シソーラス用語： 計測 ,...

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分類 (1件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 伝導度 ,  走査型 ,  ナノスケール ,  マルチプローブ