赤外線散乱による高密度ZnSの細孔径分布のキャラクタリゼーション

CHEN W W; DUNN B

文献

J-GLOBAL ID：200902182212180737 整理番号：93A0795123

赤外線散乱による高密度ZnSの細孔径分布のキャラクタリゼーション

Characterization of Pore Size Distribution by Infrared Scattering in Highly Dense ZnS.

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巻： 76 号： 8 ページ： 2086-2092 発行年： 1993年08月
JST資料番号： C0253A ISSN： 0002-7820 CODEN： JACTAW 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

Mieの理論に基づいて開発した光学モデルにより,高密度赤外線...

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セラミック・磁器の性質

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