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J-GLOBAL ID:200902186112597954   整理番号:97A0177650

HgI2,CdTeとSi(p-i-n)X線検出器の比較

Comparison of HgI2, CdTe and Si(p-i-n) X-ray detectors.
著者 (4件):
資料名:
巻: 380  号: 1/2  ページ: 186-192  発行年: 1996年10月01日 
JST資料番号: D0208B  ISSN: 0168-9002  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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基本的材料の性質とX線スペクトロメトリーの応用について,Hg...
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放射線検出・検出器 
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