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J-GLOBAL ID：200902186340871683   整理番号：94A0170014

HEMT/SiのVth面内分布と高周波特性評価

Evaluations of Vth uniformities and fT for HEMT’s/Si.

著者 (6件)： 藍郷崇 (新日本製鉄) ,  後藤光彦 (新日本製鉄) ,  城生愛次 (新日本製鉄) ,  立川昭義 (新日本製鉄) ,  平塚隆一 (新日本製鉄) ,  森谷明弘 (新日本製鉄)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 54th  号： 1  ページ： 275  発行年： 1993年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： HEMT ,  Si ,  分布 ,  高周波特性 ,  評価