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J-GLOBAL ID：200902186529480529   整理番号：93A0933752

自動試験装置用高性能GaAs・PIN電子回路

A High-Performance GaAs Pin Electronics Circuit for Automatic Test Equipment.
著者 (1件)：
TAYLOR S S

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(TriQuint Semiconductor, Inc., OR)

TriQuint Semiconductor, Inc., OR について


資料名：
IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)

IEEE Journal of Solid-State Circuits について


巻： 28  号： 10  ページ： 1023-1029  発行年： 1993年10月 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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高速自動試験装置に適した新しい高性能GaAs MESFET ...
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自動試験

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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

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電子回路

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