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J-GLOBAL ID：200902186566665164   整理番号：03A0121413

小基線の差分SAR干渉写真に基づき表面変形を監視するための新しいアルゴリズム

A New Algorithm for Surface Deformation Monitoring Based on Small Baseline Differential SAR Interferograms.

著者 (4件)： BERARDINO P (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  FORNARO G (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  LANARI R (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  SANSOSTI E (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA)
資料名： IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing  (IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing)
巻： 40  号： 11  ページ： 2375-2383  発行年： 2002年11月 
JST資料番号： H0016B  ISSN： 0196-2892  CODEN： IGRSD2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 差分SAR干渉測量(DIFSAR)は,比較的新しい技法である...

シソーラス用語： 基線測量 ,...

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分類 (1件)： 測地学  (DC02000X)

タイトルに関連する用語 (7件)： 基線 ,  差分 ,  SAR ,  干渉 ,  写真 ,  表面変形 ,  アルゴリズム