低エネルギー希ガスイオンによるMgO薄膜からの電子放出  二次電子放出係数のエネルギー依存性と初期不安定性

MOON K S; LEE J; WHANG K-W

文献

J-GLOBAL ID：200902187118612366 整理番号：99A0977173

低エネルギー希ガスイオンによるMgO薄膜からの電子放出二次電子放出係数のエネルギー依存性と初期不安定性

Electron ejection from MgO thin films by low energy noble gas ions: Energy dependence and initial instability of the secondary electron emission coefficient.

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巻： 86 号： 7 ページ： 4049-4051 発行年： 1999年10月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

多結晶MgO薄膜(500~5000Å)に対して,イオンエネル...

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Auger電子放出,二次電子放出 , 酸化物薄膜

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低エネルギー希ガスイオンによるMgO薄膜からの電子放出 二次電子放出係数のエネルギー依存性と初期不安定性

低エネルギー希ガスイオンによるMgO薄膜からの電子放出二次電子放出係数のエネルギー依存性と初期不安定性