Ti(膜)/SiC(基板)系の表面及び界面  軟X線放射及び光電子放出電子顕微鏡研究

LABIS J; OHI A; KAMEZAWA C; YOSHIDA K; HIRAI M; KUSAKA M; IWAMI M

文献

J-GLOBAL ID：200902187662885988 整理番号：02A0599382

Ti(膜)/SiC(基板)系の表面及び界面軟X線放射及び光電子放出電子顕微鏡研究

Surface and interface of Ti(film)/SiC(substrate) system: A soft X-ray emission and photoemission electron microscopy study.

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資料名：
巻： 190 号： 1/4 ページ： 521-526 発行年： 2002年05月08日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

軟X線放射分光(SXES)及び光電子電子顕微鏡(PEEM)に...

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その他の無触媒反応 , その他の無機化合物の薄膜

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Ti(膜)/SiC(基板)系の表面及び界面 軟X線放射及び光電子放出電子顕微鏡研究

Ti(膜)/SiC(基板)系の表面及び界面軟X線放射及び光電子放出電子顕微鏡研究