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J-GLOBAL ID：200902188080749849   整理番号：93A0949784

XPSによる高分子材料分析の新展開

New development of polymer material analysis by XPS.
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著者 (1件)：
大薮又茂

大薮又茂 について

(島津製作所)

島津製作所 について


資料名：
表面(表面談話会・コロイド懇話会)  (Reviews and Topics on Surface Science & Technology Avant-Garde)

表面(表面談話会・コロイド懇話会) について


巻： 31  号： 10  ページ： 746-751  発行年： 1993年10月 
JST資料番号： G0745A  ISSN： 0367-648X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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試料表面の不均一帯電を除くフラッドガンとよぶ電子銃,XPS(...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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表面

表面 について

,...
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価電子帯

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分類 (1件)：
分類
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高分子固体のその他の性質 
(CG02025L)

高分子固体のその他の性質 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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XPS

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高分子材料

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, 
分析

分析 について

, 
展開

展開 について


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