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J-GLOBAL ID：200902188119121826   整理番号：93A0697674

炭化ケイ素の同定のための結晶学的データとX線回折データの再検討

Reinvestigation of crystallographic data and X-ray diffraction data of silicon carbide for polytype identification purposes.

著者 (3件)： 伊藤醇一 (昭和電工 総技研) ,  岩附正明 (山梨大 工) ,  深沢力 (山梨大 工)
資料名： 分析化学
巻： 42  号： 8  ページ： 445-459  発行年： 1993年08月 
JST資料番号： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 炭化けい素(SiC)には多数のポリタイプが存在し,通常のSi...

シソーラス用語： 炭化ケイ素 ,...

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分類 (1件)： その他の無機化合物の結晶構造  (BK07030J)

引用文献 (46件)：

• JCPDS. Powder Diffraction File. 1979, 29-1129
• JCPDS. Powder Diffraction File. 1979, 29-1126
• JCPDS. Powder Diffraction File. 1979, 29-1130
• JCPDS. Powder Diffraction File. 1981, 31-1231
• JCPDS. Powder Diffraction File. 1979, 29-1127

タイトルに関連する用語 (4件)： 炭化ケイ素 ,  同定 ,  結晶学 ,  X線回折