文献
J-GLOBAL ID：200902188311114582   整理番号：94A0465890

A General Reliability Algorithm for Electronic Components.

  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0465890&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=K19940439") }}
著者 (2件)：
RAMESH S

RAMESH S について

(IBM Corp., New York, USA)

IBM Corp., New York, USA について

, 
TOBIAS P A

TOBIAS P A について

(IBM Corp., New York, USA)

IBM Corp., New York, USA について


資料名：
Quality through Engineering Design  (Quality through Engineering Design)

Quality through Engineering Design について


ページ： 255-266  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19940439  ISBN： 0-444-89667-8  資料種別： 会議録 (C)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM