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J-GLOBAL ID：200902189594561748   整理番号：94A0085557

In Situ測定によるC₆₀薄膜の電気物性評価と酸素の影響

In Situ Measurement of Electrical Properties of C₆₀ Thin Films and Oxygen Effects.

著者 (2件)： 南信次 (物質工学工技研) ,  KAZAOUI S (物質工学工技研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(分科会)  (日本物理学会分科会講演予稿集)
巻： 1993  号： Autumn Pt 2  ページ： 404  発行年： 1993年09月 
JST資料番号： S0872B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： C60 ,  薄膜 ,  電気物性 ,  評価 ,  酸素