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J-GLOBAL ID：200902191994725582   整理番号：02A0840262

超高圧走査透過電子顕微鏡(HV-STEM)による先端材料の3次元観察の可能性

著者 (1件)： 田中信夫 (名古屋大 理工科学総研セ)
資料名： 名古屋大学電子光学研究のあゆみ  (Nagoya University Ayumi(Progress Steps) of the Electron Optics Research)
号： 18  ページ： 1-4  発行年： 2002年09月25日 
JST資料番号： X0925A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 300kVの加速電圧の大角度散乱検出暗視野透過電子顕微鏡(H...

シソーラス用語： 超高圧 ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 超高圧 ,  走査透過電子顕微鏡 ,  STEM ,  先端材料 ,  3次元 ,  観察 ,  可能性