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J-GLOBAL ID：200902192881158696   整理番号：00A0150270

スキャンベースBISTでの時間空間両情報を用いた故障診断

Fault Diagnosis in Scan-Based BIST Using Both Time and Space Information.

著者 (3件)： GHOSH-DASTIDAR J (Univ. Texas, TX) ,  DAS D (Univ. Texas, TX) ,  TOUBA N A (Univ. Texas, TX)
資料名： Proceedings. International Test Conference  (Proceedings. International Test Conference)
巻： 1999  ページ： 95-102  発行年： 1999年 
JST資料番号： E0211B  ISSN： 1089-3539  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誤りを捉えたスキャンセル(空間情報)と欠陥の発生したテストベ...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： シグネチャ

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (3件)： スキャン ,  BIST ,  故障診断