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J-GLOBAL ID：200902192906700164   整理番号：01A0522675

ケルビンフォース法による表面電位測定技術の現状 超高真空SPMによる原子レベルの電位像観察

Present State of the Surface Potential Measurements by Kelvin Force Microscopy. Atomic-scale Potential Imaging by Ultrahigh Vacuum Scanning Probe Microscopy.

著者 (3件)： 北村真一 (日本電子) ,  鈴木克之 (日本電子) ,  岩槻正志 (日本電子)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 22  号： 5  ページ： 292-300  発行年： 2001年05月10日 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Ag蒸着及びAu蒸着のSi(111)7×7表面の接触電位差(...

シソーラス用語： *ケイ素 ,...

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分類 (2件)： 表面の電子構造  (BM02080J) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (13件)：

• 1) J.M.R. Weaver and D.W. Abraham: J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1559 (1991).
• 2) M. Nonnenmacher, M.P. O'Boyle and H.K. Wickramasinghe: Appl. Phys. Lett. 58, 2921 (1991).
• 3) A.K. Henning, T. Hochwitz, J. Slinkman, J. Never, S. Hoffmann, P. Kaszuba and C. Daghlian: J. Appl. Phys. 77, 1888 (1995).
• 4) T. Hochwitz, A.K. Henning, C. Levey, C. Daghlian, J. Slinkman, J.Never, P. Kaszuba, R. Gluck, R. Wells, J. Pekarik and R. Finch: J. Vac. Sci. Technol. B 14, 440 (1996).
• 5) F.J. Giessibl: Science 267, 68 (1995).

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面電位 ,  現状 ,  高真空 ,  SPM ,  原子 ,  電位 ,  観察