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J-GLOBAL ID：200902193649551450   整理番号：02A0239537

Atomic Layer Growth and Characterization of ZnO Thin Films.

著者 (7件)： SAITO K (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  YAMAMOTO Y (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  MATSUDA A (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  IZUMI S (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  UCHINO T (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  ISHIDA K (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN) ,  TAKAHASHI K (Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
資料名： Physica Status Solidi. B. Basic Research  (Physica Status Solidi. B. Basic Research)
巻： 229  号： 2  ページ： 925-929  発行年： 2002年01月08日 
JST資料番号： C0599A  ISSN： 0370-1972  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： ZnO