文献
J-GLOBAL ID:200902195747619724   整理番号:00A0096569

電子産業分野の静電誘導によるトラブル概要

Hazards and Nuisances Caused by Electrostatic Induction. Troubles by the Static Induction in Electronics Industry.
著者 (1件):
資料名:
巻: 23  号:ページ: 297-302  発行年: 1999年12月10日 
JST資料番号: S0175A  ISSN: 0386-2550  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
LSI回路などの微細化が進むにつれて,ESD耐性の低下と静電...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
,...
準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

   続きはJDreamIII(有料)にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=00A0096569&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0175A") }}
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体集積回路  ,  表示機器 
引用文献 (27件):
  • 藤江明雄. ウルトラクリーンテクノロジーUCT. UCS. 1999, 11, 2, 102
  • 藤江明雄. NIKKEI MICRODEVICES. 1995, 125, 102
  • Dixon, T. Electronic Packaging and Production. 1982, October
  • MCFARLAND, W. Y. EOS/ESD Symposium Proceedings. 1981, EOS-3, 28
  • HELLING, Karl-H. EOS/ESD Symposium Proceedings. 1996, EOS-18, 96
もっと見る
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る