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J-GLOBAL ID：200902195969433157   整理番号：99A0672753

アナログディジタル混載集積回路における雑音選択電圧コンパレータを用いた基板雑音測定

Substrate Noise Measurement by using Noise-selective Voltage Comparators in Analog and Digital Mixed-signal Integrated Circuits.

著者 (3件)： MAKIE-FUKUDA K (Hitachi Ltd., Tokyo, JPN) ,  ANBO T (Hitachi ULSI Engineering Corp., Tokyo, JPN) ,  TSUKADA T (Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
資料名： Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference  (Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference)
巻： 1998  号： Vol.2  ページ： 1377-1380  発行年： 1998年 
JST資料番号： B0689B  ISSN： 1091-5281  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 基板雑音を解析し,さらにその効果を低減するために,広帯域基板...

シソーラス用語： *雑音測定 ,...
準シソーラス用語： 基板雑音 ,...

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分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： アナログディジタル混載集積回路 ,  雑音 ,  電圧コンパレータ ,  基板雑音