文献
J-GLOBAL ID：200902196143584880   整理番号：02A0018064

遅延試験のための適応パス選定法

An Adaptive Path Selection Method for Delay Testing.
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著者 (4件)：
JONE W-B

JONE W-B について

(Univ. Cincinnati, OH, USA)

Univ. Cincinnati, OH, USA について

, 
YEH W-S

YEH W-S について

(Inst. Information Ind., Taipei, TWN)

Inst. Information Ind., Taipei, TWN について

, 
YEH C

YEH C について

(National Chung-Cheng Univ., Chiayi, TWN)

National Chung-Cheng Univ., Chiayi, TWN について

, 
DAS S R

DAS S R について

(Univ. Ottawa, ON, CAN)

Univ. Ottawa, ON, CAN について


資料名：
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement について


巻： 50  号： 5  ページ： 1109-1118  発行年： 2001年10月 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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集積回路における技術の進歩により,チップの集積密度が高まり,...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*遅延評価

遅延評価 について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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IC【集積回路】

IC【集積回路】 について

,...
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分類 (2件)：
分類
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集積回路一般 
(NC03161C)

集積回路一般 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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遅延

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試験

試験 について

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適応

適応 について

, 
パス選定

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