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J-GLOBAL ID：200902196288312277   整理番号：02A0175382

近接端子を用いた直流電位差法に関する研究 き裂深さ評価の再現性に及ぼす端子間隔の影響

著者 (3件)： 武尾文雄 (八戸工高専) ,  小渡慎也 (ぶどうの木) ,  坂真澄 (東北大)
資料名： 八戸工業高等専門学校紀要
号： 36  ページ： 1-5  発行年： 2001年12月20日 
JST資料番号： S0436A  ISSN： 0385-4124  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 導電性材料を対象とした非破壊検査法である電位差法におけるき裂...

シソーラス用語： *電気抵抗法 ,...

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 直流 ,  電位差 ,  研究 ,  き裂深さ ,  評価 ,  再現性