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J-GLOBAL ID：200902198034447191   整理番号：02A0118585

最近の50年間における計測工学と表面品質評価の発展へのCIRPの貢献

Contribution of CIRP to the Development of Metrology and Surface Quality Evaluation During the Last Fifty Years.

著者 (9件)： PETERS J (KULeuven) ,  BRYAN J B ,  ESTLER W T (NIST, MD) ,  EVANS C (Zygo Corp., CT) ,  KUNZMANN H (PTB, Braunschweig) ,  LUCCA D A (Oklahoma-State Univ.) ,  SARTORI S (IMGC, Torino) ,  SATO H (Chuo Univ., Tokyo) ,  VANHERCK P (KULeuven)
資料名： CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research)  (CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research))
巻： 50  号： 2  ページ： 471-488  発行年： 2001年 
JST資料番号： E0026A  ISSN： 0007-8506  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記CIRP共同体のメンバーの貢献について述べた。計測工学と...

シソーラス用語： *計測工学 ,...
準シソーラス用語： 表面品質

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 計測工学 ,  表面品質 ,  評価 ,  発展