文献
J-GLOBAL ID:200902198405237403
整理番号:95A0663509
転位の電子チャネリングコントラスト像に対する表面応力緩和の影響
The effects of surface stress relaxation on electron channelling contrast images of dislocations.
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著者 (2件):
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資料名:
巻:
72
号:
1
ページ:
81-103
発行年:
1995年07月
JST資料番号:
E0753B
ISSN:
0141-8610
CODEN:
PMAADG
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (2件):
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半導体の格子欠陥
, チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失
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