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J-GLOBAL ID:200902198405237403   整理番号:95A0663509

転位の電子チャネリングコントラスト像に対する表面応力緩和の影響

The effects of surface stress relaxation on electron channelling contrast images of dislocations.
著者 (2件):
資料名:
巻: 72  号:ページ: 81-103  発行年: 1995年07月 
JST資料番号: E0753B  ISSN: 0141-8610  CODEN: PMAADG  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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転位の電子チャネリングコントラスト像内部の後方散乱電子強度分...
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分類 (2件):
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半導体の格子欠陥  ,  チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失 
タイトルに関連する用語 (4件):
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