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J-GLOBAL ID：200902198697251452   整理番号：96A0885691

抵抗性短絡と開放欠陥をもったメモリに対する動作分析と効率的テストアルゴリズム

A Study on Behavioral Analysis and Efficient Test Algorithm for Memory with Resistive Short and Open Defects.
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著者 (5件)：
KIM D I

KIM D I について

(Chonbuk Nat’l Univ.)

Chonbuk Nat’l Univ. について

, 
BAE S H

BAE S H について

(Chonbuk Nat’l Univ.)

Chonbuk Nat’l Univ. について

, 
LEE S T

LEE S T について

(Chonbuk Nat’l Univ.)

Chonbuk Nat’l Univ. について

, 
LEE C K

LEE C K について

(Seonam Univ.)

Seonam Univ. について

, 
CHON B S

CHON B S について

(Chonbuk Nat’l Univ.)

Chonbuk Nat’l Univ. について


資料名：
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. B  (Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. B)

Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. B について


巻： 33  号： 7  ページ： 1090-1099  発行年： 1996年07月25日 
JST資料番号： W0262A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 韓国 (KOR)  言語： 韓国語 (KO)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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既存メモリテストは機能性を高めるために発生可能な全故障モデル...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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RAM【メモリ】

RAM【メモリ】 について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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計算の複雑さ

計算の複雑さ について


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分類 (2件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  半導体集積回路 
(NC03162T)

半導体集積回路 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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抵抗性

抵抗性 について

, 
短絡

短絡 について

, 
欠陥

欠陥 について

, 
動作分析

動作分析 について

, 
テスト

テスト について

, 
アルゴリズム

アルゴリズム について


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