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J-GLOBAL ID：200902200113816512   整理番号：07A1158250

Ag_(コア)Au_(シェル)ナノワイヤの鋳型合成及び電気化学的研究

Template Synthesis and Electrochemical Studies of Ag_(core) Au_(shell) Nanowires

著者 (5件)： LING Li (Dep. of Chemistry, Suzhou Univ., Jiangsu, Suzhou) ,  YUAN Yaxian (Dep. of Chemistry, Suzhou Univ., Jiangsu, Suzhou) ,  XU Minmin (Dep. of Chemistry, Suzhou Univ., Jiangsu, Suzhou) ,  YAO Jianlin (Dep. of Chemistry, Suzhou Univ., Jiangsu, Suzhou) ,  GU Renao (Dep. of Chemistry, Suzhou Univ., Jiangsu, Suzhou)
資料名： Dianhuaxue  (Dianhuaxue)
巻： 13  号： 2  ページ： 160-164  発行年： 2007年 
JST資料番号： C2499A  ISSN： 1006-3471  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 鋳型合成と化学的還元法を組み合わせて,厚さの異なるAg_(コア)Au_(シェル)ナノワイヤを調製し,SEM及びサイクリックボルタンメトリー(CV)でキャラクタリゼーションを行った。ピンホールのあるAg_(コア)Au_(シェル)ナノワイヤは,電位走査を何回か行うとピンホールのない構造になることがCVの結果にあらわれた。チオフェノール(TP)及びp-アミノチオフェノール(PATP)をプローブとして用いて,コア-シェルナノワイヤについて表面増強Raman散乱(SERS)効果を研究した。Ag_(コア)Au_(シェル)ナノワイヤはSERS基板として用いることができる可能性があること,及びAuとAg上に吸着したPATPのスペクトル挙動の違いにもとづいてSERSによりコア-シェルナノワイヤのピンホールの影響を診断できることがわかった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *ナノ構造 ,  *細線 ,  *銀 ,  *金 ,  *多層構造 ,  化学合成 ,  還元 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  *サイクリックボルタンメトリー ,  ピンホール ,  プローブ ,  表面増強Raman散乱 ,  基板 ,  吸着 ,  チオール ,  芳香族化合物 ,  *ナノワイヤ ,  *コアシェル構造
準シソーラス用語： 鋳型合成

分類 (3件)： 電気化学反応  (CB07050F) ,  無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  分子化合物  (CE02000C)

物質索引 (2件)： p-アミノチオフェノール ,  チオフェノール

タイトルに関連する用語 (6件)： コア ,  シェル ,  ナノワイヤ ,  鋳型合成 ,  電気化学 ,  研究