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J-GLOBAL ID：200902200659978068   整理番号：08A0372264

「表面界面のナノ力学」溶液環境における原子間力顕微鏡による表面計測

Applications of Atomic Force Microscopy to Surface Investigations in Liquids

著者 (1件)： 山田啓文 (京大)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 29  号： 4  ページ： 221-228  発行年： 2008年04月10日 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 周波数変調検出原子間力顕微鏡(FM-AFM)を液体内試料に適用する場合の問題点と現状について解説した。最大の問題点はカンチレバーのQ値が大きく低下することであり,その主要な原因である粘性抵抗と電気二重層力の影響を論じた。次に,液体内でのFM-AFM動作を改善する方法として周波数雑音の低減と小振幅モードの採用について述べた。これらの改善を行ったFM-AFM法を用い,水中でのマスコバイトマイカ基板の観察及びリン酸緩衝液中におけるbacteriorhodopsinの観察を行った高分解能イメージング結果を示した。また,水/固体試料界面近傍の局所水和構造解析への応用についてもふれた。最後に今後の課題について述べた。

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  周波数変調 ,  片持梁 ,  Q値 ,  粘度 ,  電気二重層 ,  表面構造 ,  *水溶液 ,  白雲母 ,  バクテリオロドプシン

分類 (3件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  物理分析一般  (CC03011F)

引用文献 (14件)：

• 1) “Non-Contact Atomic Force Microscopy”, ed. by S. Morita and R. Wiesendanger (Springer, Berlin, 2002).
• 2) 山田啓文:表面科学 28, 253 (2007).
• 3) T. Eguchi, Y. Fujikawa, K. Akiyama, T. An, M. Ono, T. Hashimoto, Y. Morikawa, K. Terakura, T. Sakurai, M.G. Lagally and Y. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 93, 266102 (2004).
• 4) Y. Sugimoto, M. Abe, S. Hirayama, N. Oyabu, Ó. Custance and S. Morita: Nature Materials 4, 156 (2005).
• 5) T. Fukuma, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada: Appl. Phys. Lett. 86, 193108-1 (2005).

タイトルに関連する用語 (6件)： 界面 ,  ナノ力学 ,  溶液 ,  環境 ,  原子間力顕微鏡 ,  表面計測