LOWHORN Nathan D. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
WONG-NG W. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
LU Z. Q. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
THOMAS E. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
OTANI M. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
GREEN M. について
National Inst. of Standards and Technol., MD, USA について
DILLEY N. について
Quantum Design, CA, USA について
SHARP J. について
Marlow Ind., Inc., TX, USA について
TRAN T. N. について
Naval Surface Warfare Center, MD, USA について
Applied Physics. A. Materials Science & Processing について
輸送係数 について
標準 について
熱電材料 について
性能指数 について
テルル化物 について
ビスマス化合物 について
テルル について
ドーピング について
参照 について
熱伝導率 について
電気伝導率 について
化合物半導体 について
Seebeck係数 について
テルル化ビスマス について
R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 について
単位,標準,標準器,定数 について
半導体結晶の電気伝導 について
Seebeck係数 について
標準 について
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