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J-GLOBAL ID：200902201526175716   整理番号：05A0810533

オーバサンプリングした回折強度のみからのGaN量子ドットの定量的イメージ再構成

Quantitative Image Reconstruction of GaN Quantum Dots from Oversampled Diffraction Intensities Alone

著者 (7件)： MIAO Jianwei (Univ. California, California, USA) ,  NISHINO Yoshinori (SPring-8/RIKEN, Hyogo, JPN) ,  KOHMURA Yoshiki (SPring-8/RIKEN, Hyogo, JPN) ,  JOHNSON Bart (Stanford Linear Accelerator Center, California, USA) ,  SONG Changyong (Univ. California, California, USA) ,  RISBUD Subhash H. (Univ. California, California, USA) ,  ISHIKAWA Tetsuya (SPring-8/RIKEN, Hyogo, JPN)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 95  号： 8  ページ： 085503.1-085503.4  発行年： 2005年08月19日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： オーバサンプリングした回折強度のみから画像の再構築をする一般...

シソーラス用語： 化合物半導体 ,...
準シソーラス用語： オーバサンプリング

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分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (6件)： オーバサンプリング ,  回折強度 ,  GaN ,  量子ドット ,  定量 ,  イメージ再構成