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J-GLOBAL ID：200902204078522239   整理番号：04A0679527

EBSD(電子線後方散乱回折)法を用いた鉄膜材における疲労き裂周辺の結晶方位計測

Measurement of Crystal Orientation around the Fatigue Crack in Iron Films Using EBSD Method

著者 (3件)： 清水憲一 (岡山大 大学院自然科学研究科) ,  鳥居太始之 (岡山大 大学院自然科学研究科) ,  越智宏臣 (京楽産業)
資料名： 材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)
巻： 53  号： 9  ページ： 987-993  発行年： 2004年09月15日 
JST資料番号： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 膜材の疲労破壊特性に及ぼす結晶方位や結晶粒界のミクロ組織の影...

シソーラス用語： *金属薄膜 ,...
準シソーラス用語： 疲れ亀裂

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分類 (1件)： 金属材料  (HC05020S)

引用文献 (9件)：

• 河合末男. 材料学会講演会講演論文集. 1991, 910-71, 94
• 鳥居太始之. 日本機械学会論文集, A. 1993, 59, 1575
• 鳥居太始之. 材料. 1995, 44, 637
• 鳥居太始之. 日本機械学会論文集, A. 1999, 65, 461
• 清水憲一. 日本機械学会論文集, A. 2001, 67, 740

タイトルに関連する用語 (9件)： EBSD ,  電子線後方散乱回折 ,  法 ,  鉄 ,  膜材 ,  疲労き裂 ,  周辺 ,  結晶方位 ,  計測