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J-GLOBAL ID：200902204285477197   整理番号：05A0694547

高周波フロントエンド回路の非侵襲的BISTのためのソース帰還の利用

Use of Source Degeneration for Non-Intrusive BIST of RF Front-end Circuits

著者 (4件)： GOPALAN Anand (Rochester Inst. Technol., NY) ,  DAS Tejasvi (Rochester Inst. Technol., NY) ,  WASHBURN Clyde (Rochester Inst. Technol., NY) ,  MUKUND P.R. (Rochester Inst. Technol., NY)
資料名： IEEE International Symposium on Circuits and Systems  (IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻： 2005 Vol.5  ページ： 4385-4388  発行年： 2005年 
JST資料番号： A0757A  ISSN： 0271-4302  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 一般的なクラスの高周波通信用回路に対する,被測定回路の性能に...

シソーラス用語： *BIST ,...

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分類 (2件)： 増幅回路  (NC05040U) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高周波 ,  フロントエンド回路 ,  非侵襲的 ,  BIST ,  ソース ,  帰還