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J-GLOBAL ID：200902204611092578   整理番号：08A0944737

AFMナノリソグラフィによる導電性高分子前駆体の局所表面形状操作

著者 (8件)： 小柳遼平 (新潟大) ,  馬場暁 (新潟大) ,  大平泰生 (新潟大) ,  新保一成 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  金子双男 (新潟大) ,  JIANG Guoqian (ヒューストン大) ,  ADVINCULA Rigoberto (ヒューストン大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 69th  号： 3  ページ： 1149  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ポリビニルカルバゾール ,  導電性高分子 ,  前駆体 ,  *形態 ,  *高分子薄膜 ,  原子間力顕微鏡 ,  重合 ,  電圧 ,  *リソグラフィー ,  印加電圧 ,  表面形状
準シソーラス用語： AFM【顕微鏡】 ,  *ナノリソグラフィー

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (5件)： AFM ,  ナノリソグラフィ ,  導電性高分子 ,  前駆体 ,  表面形状