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J-GLOBAL ID：200902204631713170   整理番号：08A1247023

C_s補正された透過型電子顕微鏡による電子ホログラフィー

Electron Holography with a C_s-Corrected Transmission Electron Microscope

著者 (4件)： GEIGER Dorin (Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU) ,  LICHTE Hannes (Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU) ,  LINCK Martin (Technische Univ. Dresden, Dresden, DEU) ,  LEHMANN Michael (Technische Univ. Berlin, Berlin, DEU)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 14  号： 1  ページ： 68-81  発行年： 2008年02月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： C_s修正子は,点分解能および情報限界をかなり改良していることにより,透過型電子顕微鏡法(TEM)に急激な変化をもたらしている。物体情報が0.1nm内に鋭く局在していることが発見されていて,したがって,強度イメージが原子スケールで信頼できるものと解釈されている。しかし,通常の強度イメージに対して,フェーズ,したがって不可欠の対象物情報が欠けていて,目的物の流出波がまだ完全には検出できていない。軸はずれ電子ホログラフは,矯正されていない顕微鏡による収差補正された物体波を完全に回復するユニークな可能性を提供していて,したがって,改良された横分解能に対してC_s補正された顕微鏡を必要としない。しかし,ホログラフの遂行能力は,再構築された波のシグナル/ノイズ特性(相検出限界)が劣化されて記録されているTEMの収差により影響をうけている。したがって,C_s補正されたTEMにより軸はずれ電子ホログラフィーを実現していることになる。位相検波限界は,ファクター4改良されている。更なる利点は,”ポステリオリ”修正による残留収差微細チューニングの可能性である。従って,両方法の結合,すなわち,C_s補正および軸外れ電子ホログラフが,原子スケールでの完全なTEM解析に対する新しい見通しを開いている。

シソーラス用語： *収差補正 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  *ホログラフィー ,  *電子 ,  収差 ,  分解能 ,  *検出限界 ,  *相
準シソーラス用語： 透過電子顕微鏡 ,  電子ホログラフィー ,  *ホログラフ ,  TEM【顕微鏡】

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (3件)： Cs ,  透過型電子顕微鏡 ,  電子ホログラフィー