文献

J-GLOBAL ID：200902205091685380   整理番号：08A0161995

超伝導薄膜伝送線路の表面抵抗による損失の評価

著者 (1件)： 石井孝一 (木更津工高専)
資料名： 木更津工業高等専門学校紀要  (Bulletin of Kisarazu National Technical College)
号： 41  ページ： 7-14  発行年： 2008年01月31日 
JST資料番号： S0774A  ISSN： 0285-7901  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 超伝導薄膜伝送路の性能を評価するには電力損失に関わる表面抵抗を測定することが不可欠である。ここでは,高周波における伝送路用の金属薄膜の導電率について述べ,その測定法を示した。まず,金属薄膜内の電磁波伝搬について述べ,金属の種類(導電率の大きさ)と表皮の厚さや表面抵抗との関係を示し,薄膜の厚みについて検討した。次に,表面抵抗の算出式や測定理論を示し,試料形状による誤差を検討した。表面抵抗の測定法として,四探針法について述べ,Pt,Au,NbNの薄膜の測定結果を示した。

シソーラス用語： *超伝導薄膜 ,  *表面波線路 ,  電磁波伝搬 ,  サブミリ波 ,  金属薄膜 ,  電気伝導率 ,  表面抵抗 ,  電気測定 ,  ニオブ化合物 ,  窒化物 ,  金 ,  白金
準シソーラス用語： NbN

分類 (2件)： 伝送線  (NC04030C) ,  超伝導体の物性一般  (BM04021A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 超伝導薄膜 ,  伝送線路 ,  表面抵抗 ,  損失 ,  評価