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J-GLOBAL ID：200902205348835370   整理番号：05A0376875

面型パターン照明を用いた凹凸判定機能付き欠陥検査法の開発

著者 (3件)： 杉野直規 (大島商船高専) ,  森川香織 (大島商船高専) ,  山根八洲男 (広島大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2005  号： 春季(CD-ROM)  ページ： E67  発行年： 2005年03月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 肉眼検査 ,...

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分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 照明 ,  凹凸 ,  欠陥検査 ,  開発