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J-GLOBAL ID:200902205863943607   整理番号:09A0536544

シンクロトロンに基づくX線コンピュータマイクロ断層写真を使った硬化セメントぺーストにおける屈曲度の定量化

Quantification of tortuosity in hardened cement pastes using synchrotron-based X-ray computed microtomography
著者 (4件):
資料名:
巻: 39  号:ページ: 548-557  発行年: 2009年06月 
JST資料番号: E0724A  ISSN: 0008-8846  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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シンクロトロンに基づくX線コンピュータマイクロ断層写真を使った硬化セメントぺーストにおける屈曲度の定量化屈曲度は3D細孔ミクロ構造に影響されるためセメント系材料の輸送特性に対する細孔構造の影響をよく理解するためには重要な物理量である。この研究ではこの細孔-輸送パラメータを0.5μmの空間解像度のミクロ断層写真画像から直接評価することを試みた。この解像度は報告された硬化セメントぺーストの3D非浸潤性画像としては知る限り群を抜いて最高の解像度である。結果は,輸送特性に直接関係のある拡散屈曲度を測定する3D画像分析およびランダムウォークシミュレーションを結合したシンクロトロンミクロ断層写真使用の実現可能性を示した。浸透細孔空間に関係のある屈曲度は若材令のセメントぺーストにおいて主に輸送特性を支配する細孔形態を反映するように思われ;このように,コンピュータモデルまたは実験による実証による結果の概略の一致を説明する。Copyright 2009 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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セメントの性質・分析  ,  科学写真 

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