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J-GLOBAL ID：200902206002909552   整理番号：09A0461882

同位体希釈-誘導結合プラズマ質量分析法による底質中微量元素の全量及び化学形態別分析

Total and Species-Specific Quantitative Analyses of Trace Elements in Sediment by Isotope Dilution Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry

著者 (5件)： 稲垣和三 (独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科) ,  高津章子 (独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科) ,  鎗田孝 (独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科) ,  岡本研作 (独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科) ,  千葉光一 (独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科)
資料名： 分析化学
巻： 58  号： 4  ページ： 175-184 (J-STAGE)  発行年： 2009年 
JST資料番号： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 同位体希釈-誘導結合プラズマ質量分析法(ID-ICP-MS)は,計量学的に最も高度な一次標準測定法のひとつとして位置づけられ,精確な定量分析が可能とされている.しかしながら,環境試料等へ応用する場合,スペクトル干渉等,多くの技術課題を解決しなければ,信頼性の高い定量値を得ることができない.本研究所では,環境分析用組成標準物質開発における値付け分析への応用を目的として,ID-ICP-MSによる様々な環境試料中微量元素及び有機金属化合物の精確な定量分析法を確立してきた.本稿では,それらのうち,共沈分離/ID-ICP-MSによる底質中微量元素の定量法,陽イオン交換ディスクろ過分離/ID-ICP-MSによる底質中セレンの定量法,¹¹⁸Sn濃縮安定同位体標識合成化合物を用いた化学形態別ID-ICP-MSによる底質中有機スズ化合物の定量法及び底質標準物質の値付け分析への応用についてまとめる.(著者抄録)

シソーラス用語： *ICP-MS分析 ,  同位体希釈分析 ,  *底質 ,  痕跡量成分 ,  同時定量 ,  共沈 ,  環境試料 ,  陽イオン交換 ,  濾過 ,  有機スズ化合物 ,  セレン ,  状態分析 ,  安定同位体 ,  標識法 ,  試料調製 ,  測定精度

分類 (1件)： 鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y)

引用文献 (53件)：

• 1) R. S. Houk, V. A. Fassel, G. D. Flesch, H. J. Svec, A. L. Gray, C. E. Taylor : Anal. Chem., 52, 2283 (1980).
• 2) A. Montaser Ed. : "Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry", (1998), (Wiley-VCH, New York).
• 3) J. Vogl : J. Anal. At. Spectrom., 22, 475 (2007).
• 4) Comite Consultatif pour la Quantite de Matiere (1996) Rapport de la 1^re session. BIPM, Cedex, France.
• 5) R. L. Watters Jr., K. R. Eberhardt, E. S. Beary, J. D. Fassett : Metrologia, 34, 87 (1997).

タイトルに関連する用語 (6件)： 同位体希釈 ,  誘導結合プラズマ質量分析法 ,  底質 ,  微量元素 ,  全量 ,  化学形態別分析