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J-GLOBAL ID：200902206160079966   整理番号：04A0668930

3GHz薄膜インダクタに対する磁性膜質推定のための解析的計算

Analytical Calculation for Estimation of Magnetic Film Properties for a 3-GHz Thin Film Inductor

著者 (6件)： TANAKA T (Univ. Idaho, ID, USA) ,  HONG Y-K (Univ. Idaho, ID, USA) ,  GEE S-H (Univ. Idaho, ID, USA) ,  PARK M-H (Univ. Idaho, ID, USA) ,  ERICKSON D W (Univ. Idaho, ID, USA) ,  BYUN C (Univ. Idaho, ID, USA)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 40  号： 4,Pt.2  ページ： 2005-2007  発行年： 2004年07月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Maxwell方程式およびLandau-Lifshitz-G...

シソーラス用語： Maxwell方程式 ,...
準シソーラス用語： Gilbert制動定数 ,...

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分類 (2件)： LCR部品  (NA05030D) ,  磁性材料  (NA04040H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 薄膜インダクタ ,  磁性 ,  膜質 ,  推定 ,  解析 ,  計算