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J-GLOBAL ID：200902206558265492   整理番号：03A0152064

水素型イオンのn=2微細構造準位間の電子衝撃励起

Electron-Impact Excitations between the n=2 Fine-Structure Levels of Hydrogenic Ions.

著者 (4件)： IGARASHI A (Miyazaki Univ., Miyazaki) ,  HORIGUCHI Y (Miyazaki Univ., Miyazaki) ,  OHSAKI A (Miyazaki Univ., Miyazaki) ,  NAKAZAKI S (Miyazaki Univ., Miyazaki)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 72  号： 2  ページ： 307-312  発行年： 2003年02月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 水素イオンにおけるn=2微細構造準位の電子衝撃励起を,2種類...

シソーラス用語： 水素 ,...

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分類 (1件)： 電子との衝突・散乱  (BH04030F)

引用文献 (13件)：

• 1) G. J. Tallents: Phys. Rev. A 29 (1984) 3461.
• 2) N. N. Ljepojevic, R. J. Hutcheon and R. W. P. McWhieter: J. Phys. B 17 (1984) 3057.
• 3) B. Zygelman and A. Dalgarno: Phys. Rev. A 35 (1987) 4085.
• 4) S. Zou, K. Kato and I. Murakami: NIFS-DATA 69 (2001) 1.
• 5) N. Toshima: J. Phys. Soc. Jpn. 42 (1977) 605;

タイトルに関連する用語 (5件)： 水素 ,  イオン ,  微細構造 ,  電子衝撃 ,  励起